Contrôle statistique des procédés (SPC)
Description de la formation
Afin de rencontrer les exigences des clients, il faut parfois réduire la variation de nos procédés. Une méthode possible permettant de comprendre et réduire la variabilité est le contrôle statistique de procédé (SPC).
Cette formation permettra aux participants d'appliquer des outils simples et très efficaces du contrôle statistique des procédés (SPC) tels les cartes de contrôle et les indices de capacité afin de mieux comprendre et réduire la variation des procédés.
Objectifs pédagogiques
À la fin de cette formation, le participant sera en mesure de :
- Connaître l'origine du contrôle statistique des procédés.
- Pouvoir identifier si les produits d'un procédé sont triés ou si deux systèmes différents sont inclus dans la population étudiée à l'aide d'un histogramme.
- Comprendre la différence entre une variation normale et une variation assignable.
- Savoir quand et comment appliquer une carte de contrôle de type : IEM, XbarR, XbarS, IEM-R/S, p, np, c, u.
- Connaître des règles permettant d'identifier des tendances.
- S'assurer que la carte de contrôle réponde aux besoins en terme de capacité à détecter des changements dans le procédé.
- Calculer et comparer différents indices de capacité.
- Connaître les enjeux typiques lors de l'implantation du contrôle statistique de procédé.
Méthodologie
Plusieurs méthodes d’apprentissage et outils didactiques permettant de mesurer le progrès et l’intégration des concepts par les participants sont utilisés tout au long de la formation.
- Exposé
- Démonstration
- Travail d’équipe
- Travail individuel
- Exercice informatique
Clientèle visée
Gestionnaire, professionnel et technologue spécialisés en qualité et/ou en amélioration continue
Particularité
Les participants sont invités à apporter des données sur une clé USB. Chaque participant aura l'occasion d'analyser ses propres données lors de la formation. Le format idéal est en Excel où chaque colonne contient une variable; par exemple une colonne contenant les dates, une colonne contenant les numéros de produits, une colonne contenant une mesure de qualité, etc.
Le logiciel JMP (www.jmp.com) est utilisé lors de la formation.
Concepts fondamentaux
- Introduction au contrôle statistique de procédé
- Types de données
- Statistiques de base
- Variation
Cartes de contrôle pour variables
- Carte pour valeurs individuelles et étendues mobiles
- Règles de décision
- Carte XbarR et XbarS
- Carte IEM-R/S
- Bonnes et mauvaises méthodes pour estimer sigma
- Performance des cartes de contrôle(ARL)
Cartes de contrôle pour attributs
- Cartes p et np
- Cartes c et u
Indices de capacité des procédés
- Calcul des indices de capacité (Cp, Cpk, Pp, Ppk)
- Comparaison de la capacité de plusieurs procédés
Implantation du CSP
- Contrôle statistique vs ajustement du procédé
- Conseils pratiques pour l'implantation
Martin Carignan
M. Sc., MBA
Au cours des 20 dernières années, Martin a développé une expertise en amélioration de la performance. Il agit comme expert-conseil dans l’utilisation de différents outils statistiques et Lean (cartographie de la chaîne de valeur, kaizen blitz, analyse multivariable, analyse de système de mesure, planification d’expérience, etc.). Depuis 2000, il a formé des centaines de personnes en Lean Six Sigma et sur différents outils statistiques au Canada, aux États-Unis et en Europe.
Admissibilité
Cette formation est accréditée et/ou répond aux exigences d’obligation de formation des organismes ci-après, tel que le stipule leur règlement. Veuillez cliquer sur le logo afin d’obtenir l’information nécessaire quant à l’admissibilité de nos formations auprès des organismes en question.
Témoignages
"Très bon formateur. Il maîtrise sa matière. De plus, il implique les étudiants à participer à la formation et à travailler ensemble."
Duchelle, OCEAN SPRAY
"Formateur très compétent."
Boubacar, CONFAB LABORATOIRES